[发明专利]反射率推定方法

摘要

对于色移涂装色，也能简单地测定反射率。测定入射面A内第1反射光V_a的第1反射率(R(α_a)，同时求在入射面(A)内二维地位移的第1二等分矢量(H_a)(|H_a|＝|R(α_a)|)的终点的第1轨迹l。测定入射面A外第2反射光V_b的第2反射率R(α_b)，同时求在入射面A外三维地位移的第2二等分矢量H_b(|H_b|＝|R(α_b)|)的终点的第2轨迹m。根据两轨迹l和m，求由表示椭圆的数学方程式将与被测定面平行的平面z＝z_i上的二等分矢量Hi的终点轨迹n(x，y，z_i)近似模型化后的近似模型方程式，近似求第1反射光V_a和第2反射光V_b之外的反射光V′的二等分矢量H′的全体终点的全体轨迹n′(x，y，z)。

主权项

1. 一种反射率推定方法，使入射光L以预定入射角θ入射到被测定面上的入射点P时，该入射光L在入射面A内镜反射后的镜反射光S、和该入射光L在该入射点P反射并被接受的反射光V构成的角作为变角α，推定位于该入射面A内和入射面A外的任意变角的反射率，其特征在于包括：第1反射率测定工序，测定使入射光Ld在所述入射面A内以入射角θd入射到所述入射点P并在该入射面A内以预定变角α1，α2，...接受光时的、位于该入射面A内的第1反射光Va1，Va2，...相对该入射光Ld的第1反射率R(αa1)，R(αa2)，...；第1轨迹取得工序，将所述入射光Ld和各个所述第1反射光Va1，Va2，...的二等分矢量分别作为第1二等分矢量Ha1，Ha2，...，并且将所述第1反射率R(αa)的大小定义为|Ha|＝|R(αa)|，根据所述第1反射率R(αa1)，R(αa2)，...的测定结果，求作为在所述入射面A内二维位移曲线的、该第1二等分矢量Ha1，Ha2，...的终点的第1轨迹l；第2反射率测定工序，测定使所述入射光Ld在所述入射面A内以所述入射角θd入射到所述入射点P并在该入射面A外以所述变角α1，α2，...接受光时的、位于该入射面A外的第2反射光Vb1，Vb2，...相对该入射光Ld的第2反射率R(αb1)，R(αb2)，...；第2轨迹取得工序，将所述入射光Ld和各个所述第2反射光Vb1，Vb2，...的二等分矢量分别作为第2二等分矢量Hb1，Hb2，...，并且将所述第2反射率R(αb)的大小定义为|Hb|＝|R(αb)|，根据所述第2反射率R(αb1)，R(αb2)，...的测定结果，求作为在所述入射面A外三维位移曲线的、该第2二等分矢量Hb1，Hb2，...的终点的第2轨迹m；2交点坐标取得工序，在假想某空间内的正交坐标P-xyz时，求与z轴垂直的平面z＝zi和所述第1轨迹l以及所述第2轨迹m的交点Qli(xli，0，zi)和Qmi(xmi，ymi，zi)，该空间具有均以所述入射点P为原点且相互正交的x轴、y轴和z轴，并且所述被测定面为xy平面，而且包含该入射点P的xz平面为所述入射面A；求近似模型方程式的模型方程式取得工序，根据所述交点Qli和Qmi，以表示通过该交点Qli和Qmi的平滑曲线的数学方程式，将所述平面z＝zi上的二等分矢量Hi的终点轨迹n(x，y，zi)近似模型化而得到该近似模型方程式；和全体轨迹取得工序，设zi＝0～∞，根据所述近似模型方程式，近似求所述第1反射光Va以及所述第2反射光Vb之外的反射光V′和所述入射光Ld的二等分矢量H′的终点全体的全体轨迹n′(x，y，z)，所述变角α1，α2，...包含至少一个从被设定在0～90度范围内的N个代表性N个变角中选择的变角，其中，1≤N≤89，针对与位于0～90度范围内的多个入射角θd＝θ1，θ2，...相应的入射光Ld＝L1，L2，...中的每一入射光，重复实施所述第1反射率测定工序、所述第1轨迹取得工序、所述第2反射率测定工序、所述第2轨迹取得工序、所述2交点坐标取得工序、所述模型方程式取得工序和所述全体轨迹取得工序。