[发明专利]使用同时的并且近似的透射和反向散射成像的X射线检测

摘要

一种用于袋子和包裹的x射线成像检测系统。使用扇形波束和分段探测器来进行透射成像，同时使用扫描笔形波束来进行散射成像，两个波束同时起作用。通过屏蔽、散射探测器设计、布置和取向以及图像处理的组合来消除波束之间的串扰。图像处理减去从透射波束散射到散射探测器中的测量辐射，以减少串扰。

主权项

1. 一种用于检测物体的系统，该系统包括：a. 第一辐射源，其发射穿透性辐射的扇形波束；b. 探测器元件的分段阵列，其用于测量由所述第一辐射源透射过所述物体的穿透性辐射的强度；c. 第二辐射源，其发射穿透性辐射的扫描笔形波束；d. 至少一个散射探测器，其用于探测由所述物体从所述扫描笔形波束散射出的穿透性辐射；以及e. 处理器、存储器和显示器，所述存储器包含使所述处理器执行以下步骤的指令：从来自所述散射探测器的测量信号中减去背景信号，所述背景信号是在所述扫描笔形波束不照射所述物体时由所述散射探测器测量的，由此形成修正后的测量散射信号，以及在所述显示器上显示所述修正后的测量散射信号和来自所述探测器元件的分段阵列的测量透射信号，以用于检测所述物体。