[发明专利]用于制造电阻转换器件的方法和由此获得的器件无效
申请号: | 200780031861.4 | 申请日: | 2007-08-31 |
公开(公告)号: | CN101622729A | 公开(公告)日: | 2010-01-06 |
发明(设计)人: | 卢多维克·古克斯;德克·武泰斯 | 申请(专利权)人: | 校际微电子中心 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00;H01L51/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 李 玲 |
地址: | 比利*** | 国省代码: | 比利时;BE |
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摘要: | 为了改进电阻转换存储器的可量测性,披露了一种交叉点电阻转换结构,其中插塞本身用于存储电阻转换材料,并且顶部电极层例如使用机械化学抛光(CMP)或仅通过机械抛光而与所述插塞自动对齐。 | ||
搜索关键词: | 用于 制造 电阻 转换 器件 方法 由此 获得 | ||
【主权项】:
1.一种用于制造电阻转换器件的方法,所述器件包括底部电极、顶部电极和与所述底部电极和顶部电极接触的电阻转换材料层,其中所述方法包括:提供包括所述底部电极的衬底;在所述衬底上提供包括一个暴露了所述底部电极的开口的介电层;和在所述开口中形成电阻转换材料层。
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