[发明专利]天线特性测定装置及天线特性测定方法有效
| 申请号： | 200780032929.0 | 申请日： | 2007-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN101512352A | 公开（公告）日： | 2009-08-19 |
| 发明（设计）人： | 北田浩志;山本幸雄 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 李香兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种天线特性测定装置及天线特性测定方法。在电波消声箱(1)的内部配置被测定天线(3)和测定天线(4)。并且，根据被测定天线(3)的开口尺寸D、测定天线(4)的开口尺寸d、测定频率的波长λ，将被测定天线(3)和测定天线(4)之间的距离尺寸L设定为(D+d)2/(2λ)以上且2(D+d)2/λ以下的范围内的值。由此，在距离尺寸L较近的菲涅尔区域中，能够测定与距离尺寸L远离的夫琅禾费区域相同的被测定天线(3)的天线特性。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 特性 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种天线特性测定装置，包括：电波消声箱，其在内部设置电波吸收体；被测定天线，其成为设置在该电波消声箱内的测定对象；以及测定天线，其与该被测定天线相对置并设置在上述电波消声箱内，测定该被测定天线的天线特性，在该天线特性测定装置中，设上述被测定天线的开口尺寸为D，上述测定天线的开口尺寸为d，测定频率的波长为λ时，上述被测定天线和测定天线之间的距离尺寸L被设定在满足如下关系的范围中，2. 一种天线特性测定方法，在内部设置了电波吸收体的电波消声箱内相对置地设置被测定天线和测定天线，采用该测定天线来测定上述被测定天线的天线特性，在该天线特性测定方法中，构成为包括如下步骤：设上述被测定天线的开口尺寸为D，上述测定天线的开口尺寸为d，测定频率的波长为λ时，上述被测定天线和测定天线之间的距离尺寸L被设定在满足如下关系的范围中，和在该步骤后，采用上述测定天线来测定来自上述被测定天线的电磁波。
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