[发明专利]Ⅲ族氮化物化合物半导体发光元件的制造方法以及Ⅲ族氮化物化合物半导体发光元件和灯有效
申请号: | 200780035629.8 | 申请日: | 2007-09-26 |
公开(公告)号: | CN101517759A | 公开(公告)日: | 2009-08-26 |
发明(设计)人: | 横山泰典;酒井浩光;三木久幸 | 申请(专利权)人: | 昭和电工株式会社 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 段承恩;田 欣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供生产率优异、并具有优异的发光特性的III族氮化物化合物半导体发光元件的制造方法以及III族氮化物化合物半导体发光元件和灯。该III族氮化物化合物半导体发光元件的制造方法,是在基板(11)上至少层叠由III族氮化物化合物形成的中间层(12),并在该中间层(12)上依次层叠具有基底层(14a)的n型半导体层(14)、发光层(15)和p型半导体层(16)的方法,具有对基板(11)进行等离子处理的预处理工序、和继该预处理工序之后的、采用溅射法在基板(11)上形成中间层(12)的溅射工序。 | ||
搜索关键词: | 氮化物 化合物 半导体 发光 元件 制造 方法 以及 | ||
【主权项】:
1、一种III族氮化物化合物半导体发光元件的制造方法,是在基板上至少层叠由III族氮化物化合物形成的中间层,并在该中间层上依次层叠具有基底层的n型半导体层、发光层和p型半导体层的III族氮化物化合物半导体发光元件的制造方法,其特征在于,具有:对所述基板进行等离子处理的预处理工序;和继该预处理工序之后的、采用溅射法在所述基板上形成所述中间层的溅射工序。
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