[发明专利]用于监控多个电发光体的方法以及用于借助紫外辐射对物质进行消毒的装置有效
| 申请号： | 200780038375.5 | 申请日： | 2007-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN101522573A | 公开（公告）日： | 2009-09-02 |
| 发明（设计）人： | 扬·鲍里斯·勒森贝克 | 申请（专利权）人： | 韦德科公司 |
| 主分类号： | C02F1/32 | 分类号： | C02F1/32 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王 萍;李春晖 |
| 地址： | 德国黑*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于监控结构相同的至少三个电发光体中的多个电发光体的方法，包括：a.对所述发光体中的多个发光体施加以来自至少一个镇流器的至少一个供给信号，b.分别针对每个单个的发光体读取至少一个参数，c.从不同发光体的所读取的参数的至少一些参数中形成至少一个参考值，d.将参考值与发光体中的单个发光体的参数进行比较，e.针对每个如下发光体生成信号：该发光体的参数相对于参考值超过预先给定的偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 监控 多个电 发光体 方法 以及 借助 紫外 辐射 物质 进行 消毒 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种用于监控结构相同的至少三个电发光体(1，2，3)中的多个电发光体的方法，包括：a. 对所述发光体(1，2，3)中的多个发光体施加以来自至少一个镇流器(4，6，7，8)的至少一个供给信号，b. 分别针对每个单个的发光体(1，2，3)读取至少一个参数，c. 从不同发光体(1，2，3)的所读取的参数的至少一些参数中形成至少一个参考值，d. 将所述参考值与发光体(1，2，3)中的单个发光体的参数进行比较，e. 针对每个如下发光体(1，2，3)生成信号：所述发光体的参数相对于参考值超过预先给定的偏差。
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