[发明专利]无电解镀方法无效

专利信息
申请号: 200780041706.0 申请日: 2007-10-24
公开(公告)号: CN101535527A 公开(公告)日: 2009-09-16
发明(设计)人: 宫田清藏;清水哲也;田岛永善;曾根正人 申请(专利权)人: S.E.S.株式会社;宫田清藏
主分类号: C23C18/31 分类号: C23C18/31;H01L21/288
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人: 楼高潮
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的无电解镀方法在于金属基体试样(22)的表面上进行无电解电镀时,在无电解镀液(19)中分散有金属粉末的状态下,采用超临界流体或亚临界流体,进行无电解镀。如果这样,利用诱导共析现象,在短时间内获得均质而较厚的电镀层。在本发明的无电解镀方法中,金属粉末可采用平均粒径在1nm以上,在100μm以下的粉末,还可适用于作为半导体元件内的细微金属布线形成方法的金属镶嵌(damascene)法或双道金属镶嵌(dual damascene)法。通过上述方案可提供,采用亚临界流体或超临界流体,并且利用诱导共析现象,可短时间地通过无电解镀而获得均匀的膜的无电解镀方法。
搜索关键词: 电解 方法
【主权项】:
1、一种无电解镀方法,其为在金属基体的表面上进行无电解镀的方法,其特征在于,在无电解镀液中分散金属粉末的状态下,采用亚临界流体或超临界流体,利用诱导共析现象,进行无电解镀。
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