[发明专利]测试装置及测试模块无效

专利信息
申请号: 200780043245.0 申请日: 2007-11-15
公开(公告)号: CN101542305A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: 三桥尚史 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R29/02
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 代理人: 齐永红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种测试装置,用于测试被测试设备,该测试装置包括:对被测试设备供给测试信号的信号供给部;将按照所述测试信号,从所述被测试设备输出的输出信号作为被测量信号而输入的输入部;根据指定对被测量信号取样的时限的取样时钟,生成具有与被测量信号的1周期对应的脉冲宽度的周期脉冲的周期脉冲生成部;输出与周期脉冲的宽度对应的电压的变换部;将电压变换成数字电压值的AD转换器;从数字电压值算出表示周期脉冲的脉冲宽度的数字脉冲宽度的脉冲宽度计算部;调整从数字电压值向数字脉冲宽度变换的变换参数的调整部。
搜索关键词: 测试 装置 模块
【主权项】:
1.一种测试装置,是测试被测试设备的测试装置,其特征在于包括:信号供给部,对所述被测试设备供给测试信号;输入部,其根据所述测试信号从所述被测试设备输出的输出信号作为被测量信号而输入;周期脉冲生成部,其根据指定取样被测量信号的时限的取样时钟,生成具有与被测量信号的1周期对应的脉冲宽度的周期脉冲;变换部,输出与所述周期脉冲的宽度对应的电压;AD转换器,将所述电压转换成数字电压值;脉冲宽度计算部,根据所述数字电压值计算出表示所述周期脉冲的脉冲宽度的数字脉冲宽度;调整部,用于调整从所述数字电压值向所述数字脉冲宽度变换的变换参数。
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