[发明专利]信号处理方法和用于尺度计量系统的单元有效
| 申请号： | 200780043532.1 | 申请日： | 2007-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN101542229A | 公开（公告）日： | 2009-09-23 |
| 发明（设计）人： | J·索贝尔 | 申请（专利权）人： | ABB公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 王茂华;李 辉 |
| 地址： | 瑞典韦*** | 国省代码： | 瑞典;SE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用以确定非铁导电物体(5)的至少一个尺度(d)的尺度计量系统(1)在物体(5)内产生磁场(8)并且改变磁场的激励(X)。信号处理单元(11)测量磁场对激励(X)改变的反应(9，10)，获得激励(X)与测量的场反应(YA，YB)之间的实际场传递函数(H)，以及通过将测量的场传递函数(H)与预定场传递函数(G(d))拟合来确定物体(5)的至少一个尺度(d)，其中预定场传递函数(G(d))表示以一个尺度(d)为参数的在激励(X)与测量的场反应(YA，YB)之间的动态行为。 | ||
| 搜索关键词： | 信号 处理 方法 用于 尺度 计量 系统 单元 | ||
【主权项】：
1.一种用以确定非铁导电物体(5)的至少一个尺度(d)的信号处理方法，包括测量磁场(8)对激励(X)改变的反应(9，10)的步骤，其中所述磁场(8)施加于所述物体，其特征在于：·获取所述磁场(8)的与时间有关的所述反应(9，10)的多个样本(YAAi，YABi，YBBi，YBAi)，·根据所述多个样本(YAAi，YABi，YBBi，YBAi)来获得测量的场传递函数(H)，所述测量的场传递函数(H)代表在所述激励(X)与测量的场反应(YA，YB)之间的实际动态行为，·通过将所述测量的场传递函数(H)与预定场传递函数(G(d))拟合来确定所述物体(5)的所述至少一个尺度(d)，其中所述预定场传递函数(G(d))表示以一个尺度(d)为参数的在所述激励(X)与所述测量的场反应(YA，YB)之间的动态行为。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于ABB公司，未经ABB公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200780043532.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
