[发明专利]免疫色谱试验片的测定装置无效
| 申请号： | 200780049127.0 | 申请日： | 2007-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN101578519A | 公开（公告）日： | 2009-11-11 |
| 发明（设计）人： | 山内一德 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543;G01N21/64;G01N21/78 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 龙 淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测定装置(1a)，其具备：发光元件(21、31)，向免疫色谱试验片(41)照射测定光；光检测元件(22)，检测通过向免疫色谱试验片(41)上的第1位置(带状区域(41c))照射测定光而产生的来自免疫色谱试验片(41)的反射光；光检测元件(32)，检测通过向较第1位置位于下游侧的第2位置(带状区域(41d))照射测定光而产生的来自免疫色谱试验片(41)的反射光；控制部(13)，根据来自光检测元件(22、32)的输出信号，取得从第1位置(带状区域(41c))上的吸光度发生变化起至第2位置(带状区域(41d))上的吸光度发生变化为止的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 免疫 色谱 试验 测定 装置 | ||
【主权项】：
1.一种免疫色谱试验片的测定装置，其特征在于，具备：一个或多个光照射部，向免疫色谱试验片照射测定光；第1光检测部，检测通过向所述免疫色谱试验片上的第1位置照射所述测定光而从所述免疫色谱试验片所获得的光；第2光检测部，检测通过向所述免疫色谱试验片上的较所述第1位置位于下游侧的第2位置照射所述测定光而从所述免疫色谱试验片所获得的光；以及控制部，根据来自所述第1及第2光检测部的输出信号，取得从所述第1位置上的光学特性发生变化起至所述第2位置上的光学特性发生变化为止的经过时间。
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