[发明专利]测试装置、测试方法以及制造方法无效

专利信息
申请号: 200780049148.2 申请日: 2007-03-30
公开(公告)号: CN101573715A 公开(公告)日: 2009-11-04
发明(设计)人: 佐藤和弘;甲斐学 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G06K17/00 分类号: G06K17/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 浦柏明;徐 恕
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供一种测试装置、测试方法以及制造方法。该测试装置包括:带状线单元,其具有第一导体板和第二导体板,所述第一导体板的宽度在接收规定的电波信号并做出反应的RFID标签(T1)的宽度以上,用于接收从外部供给的相当于该电波信号的电信号,所述第二导体板与该第一导体板相对置,所述带状线单元通过与该电信号所具有的功率对应的输出来发送该电波信号,并且在所述第一导体板的与所述第二导体板相对置的相对面的相反侧配置RFID标签(T1);读写器(20),其用于对带状线单元(100)的所述第一导体板供给电信号;以及计算机(30),其用于确认RFID标签(T1)有无反应。
搜索关键词: 测试 装置 方法 以及 制造
【主权项】:
1.一种测试装置,其特征在于,包括:带状线单元,其具有第一导体板和第二导体板,所述第一导体板的宽度在接收规定的电波信号并做出反应的电子装置的宽度以上,用于接收从外部供给的相当于该电波信号的电信号,所述第二导体板与该第一导体板相对置,所述带状线单元通过与该电信号所具有的功率对应的输出来发送该电波信号,并且在所述第一导体板的与所述第二导体板相对置的对置面的相反侧配置所述电子装置;供给部,其用于对所述带状线单元的所述第一导体板供给所述电信号;以及反应确认部,其用于确认所述电子装置有无反应。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社,未经富士通株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200780049148.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top