[发明专利]具有抗反射性能的硬掩模组合物及用其图案化材料的方法有效

专利信息
申请号: 200780052470.0 申请日: 2007-12-31
公开(公告)号: CN101641390A 公开(公告)日: 2010-02-03
发明(设计)人: 金旼秀;鱼东善;吴昌一;尹敬皓;邢敬熙;李镇国;金钟涉;田桓承;南伊纳;纳塔利娅·托克列娃 申请(专利权)人: 第一毛织株式会社
主分类号: C08G61/12 分类号: C08G61/12
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 吴贵明;张 英
地址: 韩国庆*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供了一种具有抗反射性能的硬掩模组合物。该硬掩模组合物适合于光刻,提供了良好的光学和机械性能,并且表现出高蚀刻选择性。此外,该硬掩模组合物可以容易地通过旋涂(spin-on)施加技术而施用。有利地,该硬掩模组合物可用于短波长光刻并具有最小的残留酸含量。
搜索关键词: 具有 反射 性能 模组 图案 材料 方法
【主权项】:
1.一种由化学式1表示的含芳香环的聚合物:其中R1选自氢、羟基(-OH)、C1-C10烷基、C6-C10芳基、烯丙基和卤素,R2选自羟基(-OH)、氨基(-NH2)、-OR(R为C1-C10烷基或C6-C10芳基)和-NRR’(R和R’独立地为C1-C10烷基或C6-C10芳基),R3选自:并且1≤n<190。
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