[发明专利]容器口部缺陷检查方法及装置有效

专利信息
申请号: 200780052565.2 申请日: 2007-04-13
公开(公告)号: CN101646935A 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 原田崇 申请(专利权)人: 东洋玻璃株式会社
主分类号: G01N21/90 分类号: G01N21/90;G01B11/30
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 吕林红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在提高检查精度的同时,能以1台检查装置检测顶面细纹、顶面气泡、顶面起伏、顶面凹陷等全部缺陷。超过边信号阈值(EL)的区域为1个时,以最先达到边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES),超过边信号阈值(EL)的区域为2个时,以第2区域的最先达到边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES),因此,能够正确地作成进行检查的范围、即检查门,可不受各种噪声影响、精确地对顶面的顶面细纹、顶面气泡进行检查。
搜索关键词: 容器 缺陷 检查 方法 装置
【主权项】:
1.一种容器口部缺陷检查方法,向旋转的容器口部的检查位置投光,在该检查位置由朝向口部的宽度方向的线传感器接收反射光以检查容器口部的缺陷,其特征在于,从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的线数据,该数据有超过边信号阈值(EL)的区域,该区域的宽度比边宽度阈值(EW)大时,以最先达到边信号阈值(EL)的地址(GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES),所述区域的宽度比所述边宽度阈值(EW)小,在所述区域之外,还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时,以该第2区域的最先达到边信号阈值(EL)的地址(GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位置地址(GES),将从所述检查门开始位置地址(GES)到用任意的方式求得的检查门结束位置地址(GEE),作为进行检查的范围、即检查门,在该检查门中,进行顶面细纹或顶面气泡的检查。
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