[发明专利]具有气相沉积膜的塑料成形品及生产该成形品的方法有效

专利信息
申请号: 200780053214.3 申请日: 2007-07-26
公开(公告)号: CN101678642A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 伊藤卓郎;森拓己;中尾浩;山崎和彦 申请(专利权)人: 东洋制罐株式会社
主分类号: B32B9/00 分类号: B32B9/00;B65D23/08;C23C16/30
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种塑料成形品,其包括塑料基板和通过等离子体CVD法在所述塑料基板表面上形成的气相沉积膜。所述气相沉积膜包括:具有2.5至13的元素比C/Si和0.5以下的元素比O/M的有机金属气相沉积层;和厚度为40至180nm的烃气相沉积层,该烃气相沉积层在FT-IR测量中在3200至2600cm-1的波数范围内具有归属于CH、CH2和CH3的峰,且CH2的比率和CH3的比率分别为35%以下和40%以上。在膜沉积期间,使塑料成形品的基材免受氧化劣化、热劣化等。因此,塑料成形品能够提供改进的氧/水阻隔性、附着性和对于由水导致的膜分离的防止性。
搜索关键词: 有气 沉积 塑料 成形 生产 方法
【主权项】:
1.一种塑料成形品,其包括塑料基板和通过等离子体CVD法在所述塑料基板表面上形成的气相沉积膜,其中,所述气相沉积膜包括:在所述塑料基板侧面上形成并具有2.5至13的元素比C/M(M为金属元素)和不大于0.5的元素比O/M的有机金属气相沉积层,和在所述有机金属气相沉积层上形成的烃气相沉积层;和所述烃气相沉积层具有厚度在40至180nm的范围内,通过FT-IR测量,在3200至2600cm-1的波数区域内显示由CH、CH2和CH3引起的峰,并基于上述峰计算的CH、CH2和CH3的总和具有不大于35%的CH2比率和不小于40%的CH3比率。
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