[发明专利]FRET检测方法及装置

摘要

一种FRET检测方法和检测装置，其中，在去除荧光检测信息的不确定因素并定量地测量出FRET效率时，获得预先被存储在存储装置的校准信息，所述校准信息至少包括：测量对象样品的荧光中，供体分子发出的供体荧光成分的漏泄率、受体分子发出的受体荧光成分的漏泄率、以及在不发生FRET的情况下的供体荧光成分的非FRET荧光寿命。另外，利用测量对象样品的荧光的荧光强度信息和相位信息、供体荧光成分的漏泄率和受体荧光成分的漏泄率，求出供体荧光成分的FRET荧光寿命，且求出FRET效率。

主权项

1.一种FRET检测方法，将激光照射在用第一分子和第二分子进行了标记的测量对象样品上，此时通过接收测量对象样品所发出的荧光，检测出第一分子的能量朝向第二分子转移的FRET，其特征在于：所述测量对象样品发出的荧光包括被激发的第二分子所发出的荧光，其中，第一分子通过激光被激发后发出荧光，而所述第一分子所发出的荧光激发所述第二分子且使第二分子发出荧光；所述FRET检测方法，包括下述步骤：收集检测值的步骤，其中，朝向所述测量对象样品照射以规定频率对强度进行了时间调制的激光，且使用接收波段不同的多个检测传感器来接收所述测量对象样品在此时所发出的荧光，由此收集含有所述测量对象样品的荧光的荧光强度信息和相位信息的检测值；读取并得到预先存储在存储装置的校准信息的步骤，其中，所述校准信息至少包括下述信息：第一强度比，其表示的是所述测量对象样品的所述荧光中所述第一分子发出的第一分子荧光成分在所述接收波段的荧光强度比；相对于所述激光时间调制的所述第一分子荧光成分的相位信息；第二强度比，其表示的是所述荧光中所述第二分子发出的第二分子荧光成分在所述接收波段的荧光强度比；相对于所述激光时间调制的所述第二分子荧光成分的相位信息；在没有发生所述FRET的状态下所述第一分子荧光成分的非FRET荧光寿命，其被定义为通过激光被激发的第一分子发出的荧光做出一次滞后系统的弛豫响应的时刻；求出所述第一分子荧光成分的FRET荧光寿命的步骤，从各个检测传感器所收集的所述检测值中，求出在每个所述接收波段中所述测量对象样品的荧光的荧光强度信息和相位信息，并利用所求出的所述荧光强度信息和所述相位信息、所述第一强度比、所述第一分子荧光成分的所述相位信息、所述第二强度比、所述第二分子荧光成分的所述相位信息，求出被定义为通过激光被激发的第一分子发出的荧光做出一次滞后系统的弛豫响应时的所述第一分子荧光成分的FRET荧光寿命；求出FRET发生信息的步骤，其中，利用所述第一分子荧光成分的FRET荧光寿命与所述第一分子荧光分子的所述非FRET荧光寿命之比，求出FRET发生信息。