[发明专利]检测接触臂的接触部异常的异常检测装置无效
| 申请号： | 200780100960.3 | 申请日： | 2007-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN101809454A | 公开（公告）日： | 2010-08-18 |
| 发明（设计）人： | 市川雅理;池田浩树 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 高占元 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 异常检测装置(200)包括摄像部件(210)、不良检测部(241)和判断部件(260)，所述摄像部件(210)获取TIM(167)的图像数据，所述不良检测部(241)从由摄像部件(210)获取的TIM(167)的图像数据检测TIM(167)的不良外观(167a)，所述判断部件(260)根据不良检测部(241)的检测结果判断TIM(167)上是否发生异常。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 接触 异常 装置 | ||
【主权项】：
一种异常检测装置，在施行被测试电子元件测试的电子元件测试仪器中，用于检测将所述被测试电子元件按压向测试头接触部的接触臂与所述被测试电子元件接触的接触部异常，其特征在于，包括：获取所述接触臂的所述接触部的外观情报的获取单元，根据所述获取单元获取的所述外观情报检测所述接触部的不良外观的不良检测单元，和基于所述不良检测单元的检测结果判断所述接触部是否发生异常的判断单元。
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