[发明专利]缺陷管理数据存取方法无效
| 申请号： | 200810001499.2 | 申请日： | 2008-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN101499306A | 公开（公告）日： | 2009-08-05 |
| 发明（设计）人： | 陈世国;许锦发;朱修明 | 申请（专利权）人： | 广明光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 蒲迈文 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种缺陷管理数据存取方法，其是光驱接受指令读取所需区块，至光盘片读取所需区块，并存在第一缓冲区，由快取(caching)缓冲区快取所需缺陷管理数据，否则至光盘片缺陷管理区读取所需的缺陷管理数据，将所需缺陷管理数据储存于第二缓冲区，检查所需缺陷管理数据为热门数据，如为热门数据则复制至快取缓冲区，再以缺陷管理数据置换第一缓冲区区块的缺陷数据，输出第一缓冲区置换后的区块数据，以加速读取。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 管理 数据 存取 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种缺陷管理数据存取方法，用于光驱读取光盘片数据，光驱包含存储器，存储器设多个缓冲区，该存取方法包含以下步骤：(1)指令读取光盘片上所需的区块数据；(2)读取所需区块数据，并储存在第一缓冲区；(3)由快取缓冲区快取所需区块的缺陷管理数据；(4)以缺陷管理数据置换第一缓冲区区块的缺陷数据；以及(5)输出第一缓冲区置换后的区块数据。
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