[发明专利]计数设备、测距计、计数方法及距离测量方法有效

专利信息
申请号: 200810003848.4 申请日: 2008-01-24
公开(公告)号: CN101231165A 公开(公告)日: 2008-07-30
发明(设计)人: 上野达也 申请(专利权)人: 株式会社山武
主分类号: G01C3/00 分类号: G01C3/00;G01B11/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王波波
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 公开了计数设备、测距计、计数方法及距离测量方法。该计数设备包括计数单元、周期测量单元、频率分布产生单元、代表值计算单元以及校正值计算单元。计数单元计算计数间隔期间输入的信号数目。该信号数目与物理量具有线性关系。当该物理量为常数时,该信号具有单一频率。周期测量单元在计数间隔期间每次输入信号时测量信号的周期。频率分布产生单元根据测量结果产生信号周期的频率分布。代表值计算单元根据频率分布计算对信号周期分布的代表值。校正值计算单元频率分布获得不大于所计算的代表值的第一预定倍数的频率总和Ns以及不小于该代表值的第二预定倍数的频率总和Nw,并基于频率Ns和Nw来校正计数结果。采用本发明,能够校正计数误差。
搜索关键词: 计数 设备 测距 方法 距离 测量方法
【主权项】:
1.一种计数设备,其特征在于,包括:计数装置(80),用于对在计数区间中输入的信号的数目进行计数,所述信号的数目与物理量具有线性关系,并且在所述物理量恒定时,所述信号具有基本上单一的频率;周期测量装置(840),用于在所述计数区间中每次输入信号时测量信号的周期;频率分布产生装置(841),用于根据由所述周期测量装置获得的测量结果,产生所述计数区间中的信号周期的频率分布;代表值计算装置(842),用于根据由所述频率分布产生装置产生的频率分布,计算信号周期分布的代表值;以及校正值计算装置(843),用于根据由所述频率分布产生装置产生的频率分布,获得在不大于由所述代表值计算装置计算的代表值的第一预定倍数的等级中的频率的总和Ns以及在不小于所述代表值的第二预定倍数的等级中的频率的总和Nw,并基于频率Ns和Nw来校正由所述计数装置获得的计数结果。
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