[发明专利]一种快速判别内外层瑕疵的检测方法与系统无效

专利信息
申请号: 200810003887.4 申请日: 2008-01-28
公开(公告)号: CN101498674A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: 罗文期;简宏达;林思延;黄建胜;廖进强 申请(专利权)人: 中茂电子(深圳)有限公司
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958;G01N21/01
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 任默闻
地址: 518054广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明为一种快速判别内外层瑕疵的检测方法与系统,其步骤包括提供具有多层结构的一可透光待测物体一背光装置以及一表面照明装置;利用一光源控制单元,选择性地调变背光装置及表面照明装置的照射光线,以提供待测物体一交错的照射光线;继而提供一影像捕获设备,对其进行初始化设定,并与待测物体进行相对位置校正;利用影像捕获设备,对待测物体进行单向一次的扫描行程,取得待测物体于交错照射光线下的一瑕疵影像;然后,通过一影像数据重组单元,将瑕疵影像分离重组为一总瑕疵影像及一外层瑕疵影像;最后,经由一图像处理与分析单元对总瑕疵影像以及外层瑕疵影像进行判别,取得待测物体的内层瑕疵影像。
搜索关键词: 一种 快速 判别 外层 瑕疵 检测 方法 系统
【主权项】:
1. 一种快速判别内外层瑕疵的检测方法,其特征在于,该方法步骤包括:(1)提供具有多层结构的一可透光待测物体,至少一背光装置以及至少一表面照明装置;(2)利用一光源控制单元,可选择性地调变所述的背光装置及所述的表面照明装置的照射光线,用以提供所述的待测物体至少一交错的照射光线;(3)提供至少一影像捕获设备,对所述的待测物体进行单次行程线性扫描,取得所述的待测物体于所述的交错的照射光线下的一瑕疵影像;(4)经由一影像数据重组单元,将所述的瑕疵影像分离重组为一总瑕疵影像及一外层瑕疵影像;以及(5)通过一图像处理与分析单元,对所述的总瑕疵影像以及所述的外层瑕疵影像进行分析判别后,获得所述的待测物体的内层瑕疵影像。
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