[发明专利]反射率测量装置无效
| 申请号： | 200810004212.1 | 申请日： | 2008-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN101493408A | 公开（公告）日： | 2009-07-29 |
| 发明（设计）人： | 林昆蔚;江易轩;郑龙宇;张裕修 | 申请（专利权）人： | 财团法人工业技术研究院 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁 挥;祁建国 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种反射率测量装置，该装置包含一光源体，其可提供一检测光；一第一光检测部，其可感测光的强度；一光源调制部，其可将该检测光调制至一待测物上并将由该待测物反射的一反射光调制至该第一光检测部上；一第二光检测部，其可感测光的强度；以及一反射罩，其设置于该待测物与该光源调制部之间，该反射罩可将由该待测物散射的一发散反射光导引至该第二光检测部上。 | ||
| 搜索关键词： | 反射率 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种反射率测量装置，其特征在于，包括：一光源体，其可提供一检测光；一第一光检测部，其可感测光的强度；一光源调制部，其可将该检测光调制至一待测物上并将由该待测物反射的一反射光调制至该第一光检测部上；一第二光检测部，其可感测光的强度；以及一反射罩，其设置于该待测物与该光源调制部之间，该反射罩可将由该待测物散射的一发散反射光导引至该第二光检测部上。
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