[发明专利]X射线光栅相衬成像系统及方法有效
申请号: | 200810005766.3 | 申请日: | 2008-02-04 |
公开(公告)号: | CN101576515A | 公开(公告)日: | 2009-11-11 |
发明(设计)人: | 康克军;黄志峰;张丽;陈志强;李元景;刘以农;赵自然;刑宇翔 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
主分类号: | G01N23/083 | 分类号: | G01N23/083 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 谭祐祥 |
地址: | 100084北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种X射线光栅相衬成像系统及方法,包括:X射线发射装置,向被检测物体发射X射线束;第一和第二吸收光栅,位于X射线束发射方向上,被检测物体折射的X射线经由该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号;检测单元,用于接收强度变化的X射线,并转换为电信号;以及数据处理单元,处理并提取该电信号中折射角信息,并利用折射角信息计算出像素信息;成像单元,用于构建物体的图像。另外,还可利用一旋转结构,旋转物体实现CT成像模式,获得多个投影方向的折射角及相应图像,并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射率断层图像。本发明使用通常的X光机,以及十微米量级以上周期的光栅实现近分米量级视场的相衬成像。 | ||
搜索关键词: | 射线 光栅 成像 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种X射线光栅相衬成像系统,用于对物体进行透视成像,该系统包括:X射线发射装置,用于向被检测物体发射X射线束;第一和第二吸收光栅,位于X射线束的发射方向上,用于取得X射线束经过物体的折射角信息;检测单元,位于被检测物体和所述第一、第二吸收光栅的后面,用于接收经所述经被检测物体折射的X射线,并将其转换为可识别的电信号;以及数据处理单元,用于处理所述电信号并从其中计算出X射线束在所述物体的各平面位置处的折射角信息;成像单元,用于重建物体的图像。
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