[发明专利]利用布里渊散射的频谱测定装置及测定方法有效

专利信息
申请号: 200810006143.8 申请日: 2008-02-13
公开(公告)号: CN101246056A 公开(公告)日: 2008-08-20
发明(设计)人: 山本义典 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种利用布里渊散射的频谱测定装置及测定方法,其能够更迅速地判断光纤的温度或变形的状态。该频谱测定装置具有光源、分析部及异常判断部。光源输出泵浦光及探测光。使输出的泵浦光及探测光向传感光纤相对地入射。分析部分析通过布里渊散射使探测光得到的增益。异常判断部基于分析部的分析结果,判断与传感光纤的温度或变形相关的状态。泵浦光和探测光之间的频率差ν设定在规定的频率差设定范围内。该频率差设定范围是包括基准增益频谱中取得峰值的频率差在内的范围,设定为小于或等于基准增益频谱的谱线宽度,该基准增益频谱是在传感光纤的温度或变形处于基准状态时探测光得到的增益的频谱。
搜索关键词: 利用 布里渊散射 频谱 测定 装置 方法
【主权项】:
1.一种频谱测定装置,其测定与对象物邻近的光纤内产生的布里渊散射光的频谱变化,其特征在于,具有:光源,其输出用于向上述光纤的两端相对地入射的泵浦光及探测光;探测光输出端,其用于将从上述光源输出的探测光向上述光纤的一端供给;泵浦光输出端,其用于将从上述光源输出的泵浦光向上述光纤的另一端供给;分析部,其对通过上述泵浦光在上述光纤中传输产生的布里渊散射而使上述探测光得到的增益进行分析;以及判断部,其基于上述分析部的分析结果,判断与上述光纤的温度或变形有关的状态,将在上述光纤内传输的上述泵浦光和上述探测光之间的频率差设定在频率差设定范围内,该频率差设定范围是包含基准增益频谱中取得峰值的频率差在内的范围、且小于或等于上述基准增益频谱的谱线宽度,该基准增益频谱是在上述光纤的温度或变形处于基准状态时上述探测光得到的增益的频谱。
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