[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 200810009893.0 | 申请日: | 2008-02-27 |
公开(公告)号: | CN101256194A | 公开(公告)日: | 2008-09-03 |
发明(设计)人: | 圷正志 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N33/48 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 钟晶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种自动分析装置,其中,如果操作者在事前准备精度管理试样,则能够根据外部的因素进行精度管理试样的分析,可以减少操作者的负担,并且在必须进行精度管理的适当的时期一定能够实现精度管理,可以自动维持测定精度。解决方法为,根据在装置内保持精度管理试样、投入标准试样、分析中的试剂的余量满足规定的条件(为0、低于指定值)、改变日期、达到指定时刻、改变操作者、超过样品数、经过时间、登记新试剂、检测出测定异常等因素,来生成对应于保持的精度管理试样的分析委托,通过传送精度管理试样进行精度管理试样的分析。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】:
1.一种自动分析装置,其具备:分析样品的分析单元;将样品架传送至所述分析单元的传送装置,该样品架载放保持所述样品的样品容器;将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口;将精度管理试样以设置于所述支架的状态来保持在装置内的机构,其特征在于,具备输送控制设备,使得标准试样被投入到装置内时,对于精度管理试样生成与标准试样的委托项目相应的规定的测定委托,在标准试样后分析被保持在装置内的精度管理试样。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术,未经株式会社日立高新技术许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810009893.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:伺服电动机控制装置
- 下一篇:通过触摸式输入设备输入信息