[发明专利]一种非易失存储器无效

专利信息
申请号: 200810018850.9 申请日: 2008-01-28
公开(公告)号: CN101226772A 公开(公告)日: 2008-07-23
发明(设计)人: 郭万林;戴意涛;周斌;张助华;台国安 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G11C11/56 分类号: G11C11/56;G11C13/00;H01L27/12;H01L21/84
代理公司: 南京苏高专利商标事务所 代理人: 柏尚春
地址: 210016*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种非易失存储器,属非易失存储器。该存储器由绝缘基体(1),导电层(2),绝缘层(3)和导电条带(4)组成。制作时,导电层(2)和绝缘层(3)依次生长于绝缘基体(1)之上,并蚀刻一定的沟道,而后对绝缘基体(1)施加拉应变并将导电条带(4)平铺固定于绝缘层(3)上。完成后,撤去拉应变,导电条带(4)就会向上弯曲,远离导电层(2),或向下弯曲,接触导电层(2)。通过两者的接触与否来实现“ON”和“OFF”两种状态。写入时,当导电条带(4)和导电层(2)加同种电压时,两者分离;当导电条带(4)和导电层(2)加不同电压时,两者接触。这种存储器的尺寸可以由宏观尺度到纳米级别,存储密度可达T/cm2,响应速度可达ns。
搜索关键词: 一种 非易失 存储器
【主权项】:
1.一种非易失存储器,其特征在于,包括绝缘基体(1)、导电层(2)、绝缘层(3)和导电条带(4),其中导电层(2)置于绝缘基体(1)之上,绝缘层(3)置于导电层(2)之上,导电条带(4)平铺固定于绝缘层(3)之上,所述导电层(2)蚀刻成等间距的条带,条带宽度由设计存储密度来决定,所述绝缘层(3)蚀刻成绝缘台阶,台阶厚度和相互之间的间距由存储密度、写电压来确定。
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