[发明专利]一种用于集成电路测试的简便方法及其测试电路有效
| 申请号： | 200810022639.4 | 申请日： | 2008-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN101320077A | 公开（公告）日： | 2008-12-10 |
| 发明（设计）人： | 张韬 | 申请（专利权）人： | 无锡芯朋微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 | 代理人： | 奚幼坚 |
| 地址： | 214028江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于集成电路测试的简便方法，其特征是设置一个与被测集成电路共用输入、输出端的测试电路，测试电路首先对从输入端加入的脉冲信号和电源信号相比较，产生测试的时钟计数脉冲，然后对此计数脉冲进行计数和完全译码，产生测试控制选择信号，最后通过二选一方式选择出需要测试的信号；根据上述方法所设计的测试电路，设有包括时钟产生电路、译码电路和2N个二选一电路依次连接构成。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 集成电路 测试 简便 方法 及其 电路 | ||
【主权项】：
1、一种用于集成电路测试的简便方法，其特征是设置一个与被测集成电路共用输入、输出端的测试电路，测试电路首先对从输入端加入的脉冲信号和电源信号相比较，产生测试的时钟计数脉冲，然后对此计数脉冲进行计数和完全译码，产生测试控制选择信号，最后通过二选一方式选择出需要测试的信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡芯朋微电子有限公司，未经无锡芯朋微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810022639.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种分布式搭头的非晶合金铁芯
- 下一篇：水平制胶器
