[发明专利]一种检测计算机仿真结果中晶粒的取向和结晶程度的方法

摘要

本发明公开了一种检测计算机仿真结果中晶粒的取向和结晶程度的方法：将计算机仿真结果中待检测元素的所有原子的坐标读入计算机，按照设定的采样频率，沿某坐标轴的各采样点统计横轴原子密度分布函数，对其进行傅立叶变换，得到振幅－频率图，该图可反映大范围内的晶体取向、结晶程度；再通过分析归一化横轴原子密度分布研究局部的晶体取向和结晶程度。由于将三维的信息化简为一维，并且可以直接从“振幅－频率图”判断晶体的取向，使晶体取向信息得到充分表征，降低了判断晶体取向的难度。由于大部分步骤都可以编程达到自动化，极大提高了判断晶体取向的效率。表征的结果对选取的角度非常敏感，判定晶体取向的精确度很高。

主权项

1、一种检测计算机仿真结果中晶粒的取向和结晶程度的方法，其特征在于按以下步骤进行：1)对于计算机仿真后得到的结果，将其中待检测元素的所有原子的坐标读入计算机中，并设定原子的直径和沿某一欲研究的坐标轴上的采样频率；2)将整个样品沿要研究的坐标轴平移，直到样品边缘在此轴上的坐标为0；3)只考虑所有原子在这一坐标轴上的投影，按照设定的采样频率，逐个采样点统计能覆盖到该采样点的原子个数；或者通过该采样点并以该坐标轴为法线的截面所截到的各个原子面积之和，得到离散的横轴原子密度分布函数；4)以离散的横轴原子密度分布函数为原始输入信号，对其进行傅立叶变换，得到振幅-频率图，观察振幅-频率图中特定晶向的特征频率以及其二次或者多次谐波，可以初步判定沿该坐标轴的各个特定晶向的存在。