[发明专利]X射线全息衍射光栅分束器无效

专利信息
申请号: 200810024295.0 申请日: 2008-05-29
公开(公告)号: CN101295553A 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: 刘颖;谭鑫;徐向东;洪义麟;付绍军 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G21K1/06 分类号: G21K1/06;G03F7/20;G03H1/08
代理公司: 合肥金安专利事务所 代理人: 金惠贞
地址: 230026*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及X射线全息衍射光栅分束器。解决了全息光刻方法制作线密度小于100线/mm光栅很不方便的问题。本发明分束器包括光栅基片,光栅基片一侧面上设有工作光栅和调试光栅,调试光栅的栅线包含着工作光栅的栅线,且两者栅线平行,工作光栅和调试光栅的线密度比与各自的工作波长成反比,为16-165。与机械刻划法制作衍射光栅相比,本发明全息光栅分束器杂散光低,无鬼线问题,可显著缩短光栅制作周期,在几分钟至十几分钟之内即可完成全息曝光显影,栅线平行性易于控制,并且可省却光栅拼接的步骤。由于采用全息双频光栅作调试光栅,通过观察调试光栅衍射光的空间分布可以直观、方便地判断工作光栅与调试光栅的栅线平行与否。
搜索关键词: 射线 全息 衍射 光栅 分束器
【主权项】:
1、X射线全息衍射光栅分束器,包括光栅基片,所述光栅基片一侧面为光面,另一侧面上设有工作光栅和调试光栅,其特征在于:所述调试光栅的栅线包含着工作光栅的栅线,且调试光栅的栅线与工作光栅的栅线平行,所述工作光栅和调试光栅的线密度比值与各自工作波长成反比,为16-165。
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