[发明专利]一种可用于硅基光电集成器件的SiOx薄膜制备方法无效

专利信息
申请号: 200810024961.0 申请日: 2008-05-20
公开(公告)号: CN101281884A 公开(公告)日: 2008-10-08
发明(设计)人: 马忠元;徐岭;郭四华;甘新慧;戴敏;廖远宝;刘冬;徐骏;李伟;陈坤基 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: H01L21/822 分类号: H01L21/822;H01L21/316;H01L21/283;H01L33/00;C23C14/30;C23C14/08
代理公司: 南京苏科专利代理有限责任公司 代理人: 何朝旭
地址: 210093江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种可用于硅基光电集成器件的SiOx薄膜制备方法,属于光电子材料技术领域。该方法包括清洗硅片衬底并去除其表面自然氧化层后干燥、在电子束蒸发沉积装置中通入O2蒸发薄膜、制备器件电极各步骤。本发明的方法仅用氧气作为气源,成本低、对环境无污染,且在低温下进行,操作安全。
搜索关键词: 一种 用于 光电 集成 器件 siox 薄膜 制备 方法
【主权项】:
1.一种可用于硅基光电集成器件的SiOx薄膜制备方法,包括以下步骤:第一步骤、清洗硅片衬底,并去除其表面自然氧化层后干燥;第二步骤、蒸发薄膜2-1、将清洗后的硅片衬底放入电子束蒸发沉积装置的反应腔,在电子束蒸发的过程中通入所需流量的O2,在硅片衬底正面获得所需氧配比的SiOx薄膜;2-2、快速热退火,使SiOx薄膜中的Si先析出成核、结晶;2-3、恒温退火处理,使结晶核继续长大,生成镶嵌有纳米硅量子点的二氧化硅薄膜;第三步骤、制备器件的电极3-1、在镶嵌有纳米硅的SiO2薄膜上淀积留有光学窗口的导电薄膜作为发光器件阴极;3-2、在硅片衬底背面淀积导电薄膜作为发光器件的阳极。
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