[发明专利]一种片上系统芯片验证的方法和装置有效
| 申请号： | 200810026504.5 | 申请日： | 2008-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN101515301A | 公开（公告）日： | 2009-08-26 |
| 发明（设计）人： | 张奇;李新辉 | 申请（专利权）人： | 炬力集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 519085广东省珠海市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及SoC芯片领域，特别涉及一种SoC芯片验证的方法和装置，用以解决现有技术中对同一个SoC芯片不同功能进行验证时，每次验证都需要重新编译，增加了随机向量产生和控制的难度的问题。本发明实施例的方法包括：设定SoC芯片的配置文件，配置文件包括SoC芯片的基本信息和SoC芯片中模块的约束条件；根据收到的指令，确定需要验证的SoC芯片的功能所涉及的模块；根据基本信息、确定的模块的约束条件以及指令中的模块功能数据，生成随机测试向量；根据随机测试向量，对SoC芯片进行验证。本发明实施例能够减少构建验证系统的复杂度和维护难度，增强验证部件的重用性，降低验证难度，节省时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 系统 芯片 验证 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种片上系统SoC芯片验证的方法，其特征在于，设定SoC芯片的配置文件，所述配置文件包括SoC芯片的基本信息和SoC芯片中模块的约束条件，该方法包括：根据收到的指令，确定需要验证的所述SoC芯片的功能所涉及的模块；根据所述基本信息、确定的所述模块的所述约束条件以及所述指令中的模块功能数据，生成随机测试向量；根据所述随机测试向量，对所述SoC芯片进行验证。
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