[发明专利]一种易于测量TFT特性的阵列基板

摘要

本发明公开了一种易于测量TFT特性的阵列基板，包括扫描线、数据线、绝缘层、像素电极以及封框胶，在阵列基板显示区的四个角各设置有一个附加像素电极，并且分别设置有与之相对应连接的两根附加扫描线和两根附加数据线，在像素电极的一侧还设置有附加测量配线，附加像素电极向附加测量配线的一侧设置有连接凸块，该连接凸块部分与所述附加测量配线重叠；所有6根附加配线都设置有与之电连接的伸出于封框胶之外的测量块。使用该阵列基板可以在不拆解面板的前提下，直接用探针通过与附加配线电接触的ITO测量块直接对面板显示区四角的附加像素的TFT特性进行测量，可以给与合适的背光源照射并保留液晶盒的存在从而提高测量结果的可信度。

主权项

1.一种易于测量TFT特性的阵列基板，包括扫描线、数据线、绝缘层、像素电极以及封框胶，其特征在于：在阵列基板显示区的四个角各设置有一个附加像素电极，并且在显示区域四周边缘分别设置有与之相对应连接的两根附加扫描线和两根附加数据线，在附加像素电极的一侧，在数据线层与数据线相平行地设置有另外两根附加测量配线，所述的附加像素电极向附加测量配线的一侧设置有连接凸块，该连接凸块部分与所述附加测量配线重叠；所有六根附加配线都设置有与之电连接的伸出于封框胶之外的ITO测量块。