[发明专利]一种测试算法文档加载方法无效
| 申请号： | 200810035098.9 | 申请日： | 2008-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN101546257A | 公开（公告）日： | 2009-09-30 |
| 发明（设计）人： | 王伟;黄俊诚 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G06F9/44 | 分类号： | G06F9/44;G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所 | 代理人： | 屈 蘅;李时云 |
| 地址： | 2012*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试算法文档加载方法，用于将一测试算法文档加载至一半导体测试软件的测试算法数据库中。现有技术直接在半导体测试软件所提供的测试算法添加设定界面上进行测试算法的设定，当测试算法所包括的输入变量、输出变量和设备变量的总数量过大时易发生测试算法的设定失败的事情。本发明的测试算法文档加载方法先建立一测试算法文档；然后提供一转换模块以将测试算法文档转换成可直接加载至测试算法数据库的文档；最后将转换所得的文档加载至测试算法数据库中。采用本发明可避免测试算法失败的事情发生，进而提高半导体测试软件的可靠性及测试算法文档的可读性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 算法 文档 加载 方法 | ||
【主权项】：
1、一种测试算法文档加载方法，用于将一测试算法文档加载至一半导体测试软件的测试算法数据库中，其特征在于，该加载方法包括以下步骤：a、建立一测试算法文档；b、提供一转换模块以将测试算法文档转换成可直接加载至测试算法数据库的文档；c、将转换所得的文档加载至测试算法数据库中。
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