[发明专利]高分辨率亚像元成像技术实现的方法和系统无效

专利信息
申请号: 200810035324.3 申请日: 2008-03-28
公开(公告)号: CN101299099A 公开(公告)日: 2008-11-05
发明(设计)人: 陈博洋;罗勇;陈凡胜;孙胜利;陈桂林 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G02B27/58 分类号: G02B27/58;G01S17/89
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 郭英
地址: 20008*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种高分辨率亚像元成像技术实现的方法及系统,包括:普通面阵CMOS探测器;面阵CMOS探测器驱动与数据采集板;光学镜头和二维平移精密光学调节架。通过对普通面阵CMOS探测器进行一定方式的二维平移可以实现成像系统的亚像元探测,以进行亚像元探测技术研究。本发明的优点是利用灵活的二维平移机械结构使普通面阵CMOS探测器成像系统进行亚像元探测,能够避免定制特殊探测器,并且通过对二维平移位移量的控制可以灵活研究图像不同配准精度亚像元探测技术效果的影响,从而实现短周期内低成本下进行更加接近工程化的亚像元技术研究。
搜索关键词: 高分辨率 亚像元 成像 技术 实现 方法 系统
【主权项】:
1.一种亚像元成像系统,它包括:面阵CMOS探测器(1)、面阵CMOS探测器驱动与数据采集板(2)、光学镜头(3)和二维平移精密光学调节装置(4),其特征在于:由面阵CMOS探测器(1)、面阵CMOS探测器驱动与数据采集板(2)、光学镜头(3)构成的光学成像系统固定于二维平移精密光学调节装置(4)上,二维平移精密光学调节装置(4)对光学成像系统在X方向和Y方向可以作相对原始图像的50%像素的位移。
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