[发明专利]一种p型导电透明掺镍氧化铜薄膜及其制备方法无效
申请号: | 200810036559.4 | 申请日: | 2008-04-24 |
公开(公告)号: | CN101262016A | 公开(公告)日: | 2008-09-10 |
发明(设计)人: | 张群;施展;杨铭;王颖华 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/18;C23C14/08;C23C14/34;C23C14/54 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 20043*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于透明导电氧化物薄膜技术领域,具体为一种P型导电透明掺镍氧化铜薄膜及其制备方法。本发明以普通玻璃为基板,利用掺镍氧化铜(Cu1-xNixO)陶瓷靶,在基板温度为室温的条件下通过脉冲等离子体沉积技术(Pulsed Plasma Deposition,PPD),在适当的氧气压、脉冲电流和脉冲电压的条件下制备获得具有非晶结构的P型导电透明Cu1-xNixO薄膜。所制备的薄膜具有高电导率、可见光范围内高透射率等优良的光电特性。本发明方法获得的P型导电透明氧化物薄膜在透明电子学和新型光电器件领域具有较好的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 导电 透明 氧化铜 薄膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种P型导电透明掺镍氧化铜薄膜,其特征在于该掺镍氧化铜薄膜材料为Cu1-xNixO,x=0.01~0.15,由脉冲等离子体沉积技术制备获得,其中薄膜厚度为30-200nm,最高电导率达到7.1S·cm-1,可见光区域的平均透射率高于65%。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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