[发明专利]一种在硅纳米线上进行无磷无电镀镍的方法无效

专利信息
申请号: 200810037942.1 申请日: 2008-05-23
公开(公告)号: CN101280425A 公开(公告)日: 2008-10-08
发明(设计)人: 陶佰睿;苗凤娟;李辉麟;万丽娟;张健 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: C23C18/34 分类号: C23C18/34;C23C18/18;C23F1/24
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 代理人: 吴泽群
地址: 200062*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种在硅纳米线上进行无磷无电镀镍的方法,主要采用化学湿法刻蚀技术在硅衬底上制作出硅纳米线阵列,然后应用无磷镀液在其上进行无电镍薄膜的沉积,最后通过RTA强化镍-硅纳米线结构的稳定性。该发明有如下特点:1.与集成电路工艺兼容,采用化学湿法刻蚀,技术简单易行,成本低廉,成功率高;制作出的纳米线尺度较均匀,平均高度30μm,直径约60nm。2.采用无磷无电镀的化学方法对硅纳米线的表面进行金属镍沉积,克服了传统的无电镀技术中镍磷合金的产生,从而提高了该Ni/Si纳米线结构的电学、磁学、传感器的敏感等性能。该技术有很多优势,如:低温、所需器材简单、镀层均匀等。
搜索关键词: 一种 纳米 线上 进行 无磷无 电镀 方法
【主权项】:
1、一种在硅纳米线上进行无磷无电镀镍的方法,其制备步骤为:1)化学湿法刻蚀制作硅纳米线:(a)选用P型或N型的单面抛光的硅片,切割成1cm×1cm样片,RCA标准程序清洗;在常温常压下放入由35mM/L硝酸银溶液、20%氢氟酸溶液和去离子水按体积比为1∶1∶2混合制作的刻蚀液中刻蚀35~50min;(b)用浓硝酸和去离子水1∶2混合溶液除去硅纳米线表面的残留的银颗粒,再用去离子水充分清洗,放入烘干箱中于90~130℃烘干备用;2)无电沉积镍薄层:将硅纳米线衬底在表面活性剂十二烷基硫酸钠溶液中浸泡35-45s进行表面活化,增加其亲水性;再将其置于用浓氨水滴定调Ph值为8.5~9.5的无电镀液中,无电镀液用水浴保持温度在78±4℃,反应25~35min;然后用80±5℃去离子水冲洗并再次放入烘箱90~130℃烘干,得到Ni-SiNWs阵列复合结构样品。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华东师范大学,未经华东师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810037942.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top