[发明专利]基于扫描链的存储器测试装置及其使用方法无效
| 申请号： | 200810043375.0 | 申请日： | 2008-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN101587754A | 公开（公告）日： | 2009-11-25 |
| 发明（设计）人： | 马伟剑 | 申请（专利权）人： | 卓胜微电子(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/32 | 分类号： | G11C29/32 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201203上海市浦东新区龙*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于扫描链的存储器测试装置及其使用方法。涉及一种芯片的测试装置及其使用方法，尤其是一种存储器的测试装置及其使用方法。本发明包括存储器内建自测试模块，该存储器内建自测试模块包括测试向量产生电路、内建自测试控制电路和存储器响应分析电路；存储器内建自测试模块内有用来保存内建自测试结果的可扫描触发器，所述可扫描触发器与逻辑电路可扫描触发器串联成扫描链，该扫描链通过存储器芯片端口可控可观。本发明能在不增加任何芯片面积的前提下，有效的定位缺陷存储器，方便缺陷分析和设计改进。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 扫描 存储器 测试 装置 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
1、一种基于扫描链的存储器测试装置，包括存储器内建自测试模块，该存储器内建自测试模块包括测试向量产生电路、内建自测试控制电路和存储器响应分析电路；其特征在于，存储器内建自测试模块内有用来保存内建自测试结果的可扫描触发器，所述可扫描触发器与逻辑电路可扫描触发器串联成扫描链，该扫描链通过存储器芯片端口可控可观。
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