[发明专利]低电压带隙基准源的安全启动电路有效

专利信息
申请号: 200810043689.0 申请日: 2008-08-06
公开(公告)号: CN101644938A 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 何剑华;李兆桂 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G05F3/16 分类号: G05F3/16;H03K17/687
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 丁纪铁
地址: 201206上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种低电压带隙基准源的安全启动电路,包括电流源产生电路,带隙基准源的启动电路,带隙基准源主体电路,带隙基准源的启动电路包括M42,其栅极与电流源产生电路的输出相连接,源极接电源电压Vdd,漏极与M30的漏极以及M35的栅极相连接,M30的源极与Q3的发射极相连接,M30的栅极与M35的源极相连接,M30的衬底和源极短接并接入Q3的发射极,其基极和集电极短接并与地相连,M35的漏极接Vdd,且衬底接地,M32的衬底接地,漏极接M35的源极,并与M30的栅极相连接,M32的源极与INN相连接。本发明能在极低的电压下保证带隙基准源的安全启动。
搜索关键词: 电压 基准 安全 启动 电路
【主权项】:
1.一种低电压带隙基准源的安全启动电路,包括依次连接的电流源产生电路,带隙基准源的启动电路,带隙基准源主体电路,该电流源产生电路产生带隙基准源启动电路中运放工作的偏置电流,其特征在于,所述的带隙基准源的启动电路包括P型晶体管(M42),其栅极与电流源产生电路的输出相连接,源极接电源电压(Vdd),漏极与N型本征晶体管(M30)的漏极以及N型晶体管(M35)的栅极相连接,N型本征晶体管(M30)的源极与PNP三极管(Q3)的发射极相连接,N型本征晶体管(M30)的栅极与N型晶体管(M35)的源极相连接,并且,N型本征晶体管(M30)的衬底和源极短接并接入(Q3)的发射极,PNP三极管(Q3)的基极和集电极短接并与地相连,N型晶体管(M35)的漏极接电源电压(Vdd),且衬底接地,N型本征晶体管(M32)的衬底接地,漏极与栅极短接后接N型晶体管(M35)的源极,并与N型本征晶体管(M30)的栅极相连接,N型本征晶体管(M32)的源极与带隙基准源主体电路中的运放的负输入端(INN)相连接,带隙基准源主体电路中包含P型晶体管(M11),其源极与N型本征晶体管(M32)的源极以及运放的负输入端(INN)相连接,电阻(R17)一端与运放的负输入端(INN)相连接,另一端接地,PNP三极管(Q1)的发射极与运放负输入端(INN)相连接,基极与集电极短接并且接地,P型晶体管(M42)上的电流用Ibias表征,而(M11)上的电流用Ibgr来表征,运放负输入端的电位以VINN表征,运放负输入端的电位VINN为电阻(R17)上的电压和(Q1)上电压的和,P型晶体管(M42)上的电流Ibias送入PNP三极管(Q3)和N型本征晶体管(M30)产生了启动电位Vstart,即N型本征晶体管(M32)的栅(源)电位,当Vstart-VINN>N型本征晶体管M32的阈值电压Vth(M32),则N型本征晶体管(M32)会导通,则VINN将会被拉高,最终达到Vstart-Vth(M32)。
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