[发明专利]单端口测试微波腔体滤波器级间耦合系数的测量方法

摘要

本发明涉及的一种单端口测试微波腔体滤波器级间耦合系数测量方法，包括下列步骤：用接含有数据采集软件程序的计算机连接测试仪器，并与与被测件建立测试平台；在测试仪器的一个端口上测量被测件的反射参数S11，并通过GPIB接口传输到个人计算机，在计算机中计算耦合系数，移动网络分析仪的频率标记，在测试曲线上找到S11的传输零点，根据公式计算出第一与第二个腔体的耦合系数M12和第二和第三个腔体的耦合系数M23，或第三和第四个腔体的耦合系数M34。本发明采用单端口测试，不需单独加工测试附近，可直接在需调试的滤波器上进行测试。避免了现有技术加工测试附件辅助测量级间耦合系数的复杂性和不方便性，节约了成本，且测试精度高。

主权项

1.一种单端口测试微波腔体滤波器级间耦合系数测量方法，包括下列步骤：A.连接测试仪器与被测件，用含有数据采集分析软件程序的计算机，通过GPIB接口连接测试仪器，建立测试平台；B.在测试仪器的一个端口上测量被测件的反射参数S11，并将测试数据通过GPIB接口传输到计算机；C.根据测量的传输零点和极点的频率值，通过所述计算机中的数据采集分析软件程序计算耦合系数，耦合系数由下述步骤计算出，先由下式计算出被测件的输入导纳y11：$y_{11}^{\left(n\right)}\left(\lambda \right)=j\underset{i=1}{\overset{n-1}{\Pi }}(\lambda -{\mu }_i)/\underset{\upsilon =1}{\overset{n}{\Pi }}(\lambda -\mathrm{\lambda \upsilon })式中：\mu i和\lambda \upsilon 是测得的传输极点和零点工作波长\lambda ＝300/f\; 式中f为频率由式$ y_{11}^{\left(n\right)}\lambda =j\underset{i=1}{\overset{n}{\Sigma }}\frac{K_i}{\lambda -{\lambda }_i}得到留数K的值，由式T1j＝(Kj/N2)1/2得到耦合矩阵M的第一行，再通过矩阵构造得到耦合矩阵M＝T\Lambda Tt，耦合矩阵M中对应的值即为需要的耦合系数，式中\Lambda ＝diag(\lambda 1，\lambda 2，...，\lambda n)Tt是T的转置上述公式中的n为滤波器腔体数目，n为自然数。$$