[发明专利]一种综合孔径辐射计成像校正方法

摘要

本发明属于微波遥感及探测技术领域，为一种综合孔径辐射计成像校正方法。该方法首先测量背景和通道本底各基线的可见度输出；然后在视场内放置外部源(信号源或者噪声源)，测量各基线的可见度输出；将两次测量的可见度按基线相减得到仅由外部源产生的可见度输出；测量被测场景的可见度输出，将得到的输出相位减去由外部源产生的相关输出的相位，得到校正后的可见度，然后反演成像，即可得到校正后被测场景的图像。该校正方法可提高干涉式综合孔径辐射计的成像性能，具有测量简单、不需要转台控制系统的支持、计算量小以及可以周期测量的优点。本发明并不局限于远场测量，仿真和实验均发现近场条件下该校正方法仍然可用。

主权项

1、一种综合孔径辐射计成像校正方法，其步骤包括：(1)采用N个天线组成天线阵列，接收场景和目标的微波热辐射信号，得到N路模拟信号，经放大、滤波、下变频和模数转换变换为N路数字复信号x_i(t)，i＝1，2，...，N，其中t为离散时间变量，N为大于1的整数；(2)任意选择其中的两路信号x_n(t)、x_m(t)，1≤n≤N，1≤m≤N，利用公式(I)计算原始可见度V_raw：V_raw＝E[x_n(t)x_m(t)](I)(3)判断场景中是否包含人工目标，如果包含，去除人工目标，按照步骤(1)至(2)的方法，获取没有放置人工目标时的可见度V_b，然后进入步骤(4)，否则直接进入步骤(4)；(4)利用公式(II)计算仅由自然场景和仅由人工目标产生的可见度V′_b；(5)在视场内放置信号源/或者噪声源，采用以下步骤测量可见度输出V′_raw；(5.1)采用上述天线阵列接收目标的微波热辐射信号得到N路模拟信号，经放大、滤波、下变频和模数转换变换为N路数字复信号y_i(t)，i＝1，2，...，N，其中t为离散时间变量；(5.2)选择其中的两路信号y_n(t)，y_m(t)，利用公式(III)计算可见度：V′_raw＝E[y_n(t)y_m(t)](III)(6)采用公式(IV)计算得到仅由外部源产生的可见度输出V_cal；V_cal＝V′_raw-V_b(IV)并得到相位φ_raw，φ_raw＝∠V_cal；(7)采用公式(V)得到校正后的可见度V₂：V2=Vb×e-jφraw---(V)]]>其中，e为自然对数，j为虚数单位；(8)反演成像得到下述被测场景的图像T：T＝IFFT{V₂}其中，IFFT表示反傅立叶变换。