[发明专利]谷粒参数自动测量装置及方法无效
| 申请号： | 200810048741.1 | 申请日： | 2008-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN101339118A | 公开（公告）日： | 2009-01-07 |
| 发明（设计）人： | 骆清铭;曾绍群;毕昆;方伟 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10;G01B11/02;G01N21/84 |
| 代理公司： | 武汉开元专利代理有限责任公司 | 代理人： | 唐正玉 |
| 地址： | 430074湖北省武汉市洪山区*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种谷粒参数自动测量装置及方法，本装置由预设的计算机控制，采用单株脱粒仪将稻穗脱粒，谷粒由单株脱粒仪通过扩展接口落到皮带上，由运转的皮带分离谷粒；由CCD相机拍摄谷粒图像，并通过图像采集卡传给计算机，由计算机将所得图像进行处理，得到谷粒的各项参数。本发明利用CCD成像的方法，通过数字图像处理技术对拍摄到的图像进行处理，得到谷粒的长、宽、面积参数及粒数。整个过程由预设的电脑程序控制自动化完成，方面快捷，操作简单。 | ||
| 搜索关键词： | 谷粒 参数 自动 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、谷粒参数自动测量装置，包括光电开关(1)、可控升降板(2)、单株脱粒仪(3)、控制按钮(4)、CCD相机(5)、皮带(6)、毛刷(7)、安全防护设施(8)、计算机(9)、皮带控制器(10)、图像采集卡(11)，光电开关(1)与可控升降板(2)相连，都位于单株脱粒仪(3)入口处，控制按钮(4)分别与可控升降板(2)及计算机(9)相连，CCD相机(5)依次与图像采集卡(11)、计算机(9)相连，CCD相机(5利用三脚架支持并固定，其镜头正对皮带(6)，CCD相机(5)、皮带(6)及毛刷(7)都安装在安全防护设施(8)内，皮带(6)与皮带控制器(10)相连，毛刷(7)位于皮带(6)下部外侧。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学，未经华中科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810048741.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种改变反射元件与光线相对位置的方法
- 下一篇：一种翻转机构
