[发明专利]具有超高介电常数的高频介质陶瓷及其制备方法有效

专利信息
申请号: 200810052910.9 申请日: 2008-04-25
公开(公告)号: CN101265096A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 李玲霞;曹丽凤;张平;王洪茹;张志萍 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: C04B35/495 分类号: C04B35/495;C04B35/622;H01L41/187
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 曹玉平
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种具有超高介电常数的高频介质陶瓷,其原料组分及质量百分比含量为Ag2O 38~45%、Nb2O5 18~47%、Ta2O5 8~44%,在此基础上外加质量百分比含量为0.5~6.0%的CaF2。制备步骤为:(1)配料、球磨;(2)烘干;(3)煅烧、合成(Nb,Ta)2O5前驱体;(4)二次配料,经球磨、煅烧,形成熔块Ag(Nb,Ta)O3;(5)添加CaF2,经球磨、烘干、制得陶瓷粉料;(6)压制生坯;(7)烧结制得介质陶瓷。本发明在中温下烧结(1060~1150℃),通过添加剂的改变和组分的变化极大地提高了材料的介电常数(ε>1000),降低了其介质损耗(tanδ<10×10-4),完善了该陶瓷材料的介电性能。本发明应用于电子信息材料与电子元器件领域。
搜索关键词: 具有 超高 介电常数 高频 介质 陶瓷 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种具有超高介电常数的高频介质陶瓷,其原料组分及质量百分比含量为Ag2O38~45%、Nb2O5 18~47%、Ta2O5 8~44%,形成熔块Ag(Nb,Ta)O3,在此基础上外加质量百分比含量为0.5~6.0%的CaF2。
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