[发明专利]串联电路中发光二极管开路损坏的保护技术无效

专利信息
申请号: 200810063355.X 申请日: 2008-08-08
公开(公告)号: CN101340764A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: 宗慎平;邵榴子;宗稚鹏 申请(专利权)人: 宗慎平
主分类号: H05B37/04 分类号: H05B37/04
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 林怀禹
地址: 314000浙江省嘉兴市禾兴*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种串联电路中发光二极管开路损坏的保护技术,它是将串联电路中每个或每若干个所述发光二极管的两端分别并联连接稳压元器件。当电路中某一发光二极管开路损坏时,该发光二极管两端的电压因开路而升高,从而击穿稳压元器件,这样,整个串联电路因稳压元器件的导通仍能正常运行,支路中其它发光二极管仍能正常工作。因而,本发明有效地解决了因单个发光二极管开路损坏而对整个电路所带来的问题,它将此影响降到了最低限度。
搜索关键词: 串联 电路 发光二极管 开路 损坏 保护 技术
【主权项】:
1、串联电路中发光二极管开路损坏的保护技术,其特征在于,它将串联电路中每个或每若干个所述发光二极管的两端分别并联连接稳压元器件。
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