[发明专利]一种无线链路环回测试的方法及其装置无效

专利信息
申请号: 200810065952.6 申请日: 2008-01-17
公开(公告)号: CN101227693A 公开(公告)日: 2008-07-23
发明(设计)人: 瞿兆斌 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04Q7/34 分类号: H04Q7/34;H04B17/00
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 代理人: 王永文
地址: 518057广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种无线链路环回测试的方法及其装置,其包括如下步骤:信号源输出的信号输入到待测设备的接收通道,进行下变频处理,通过一模数转换器采样,以及环回处理单元用于抽取、滤波,并将数据环回到发射通道;对从所述环回处理单元环回的数据进行内插、滤波,发送到数模转换器,上变频到射频信号,通过所述发射通道送到矢量信号分析仪进行解调后分析。本发明无线链路环回测试的方法及装置由于采用从FPGA/DSP模块处环回的方式,用仪器直接测试链路性能,避免了通过复杂的基带处理来实现链路的检测,提高了测试效率,大大缩短了开发周期,降低了系统开发的难度,并提高了系统的可靠性。
搜索关键词: 一种 无线 链路环回 测试 方法 及其 装置
【主权项】:
1.一种无线链路环回测试的方法,其包括如下步骤:A、信号源输出的信号输入到待测设备的接收通道,进行下变频处理,通过一模数转换器采样,以及环回处理单元用于抽取、滤波,并将数据环回到发射通道;B、对从所述环回处理单元环回的数据进行内插、滤波,发送到数模转换器,上变频到射频信号,通过所述发射通道送到矢量信号分析仪进行解调后分析。
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