[发明专利]一种利用人工磁场作传感器扫描定位的无损检测方法

摘要

本发明公开了一种利用人工磁场作传感器扫描定位的无损检测方法，是在常规传感器内加装一可测试磁场矢量的磁敏元件，在被测构件的外围施加一设定大小的人工磁场，该人工磁场的大小足以让进入其中的磁敏元件测出磁敏元件自身所在位置的磁场矢量，该磁场矢量包括矢量的大小和方向；当内置有磁敏元件的传感器对被测构件进行常规的无损检测扫描时，传感器常规的无损检测扫描过程被处理成第一扫描图像，传感器内的磁敏元件所对应采集的磁场矢量被计算机处理系统处理成与第一扫描图像相同步的第二扫描图像，该第二扫描图像显现了传感器定位位置的变化特征，使得在无损检测过程中，能够准确地测出传感器的位置，并通过对比判断被测构件的缺陷，具有检测方便、易实现，检测效果准确的优点。

主权项

1. 一种利用人工磁场作传感器扫描定位的无损检测方法，其特征在于：包括如下步骤：a. 在常规传感器内加装一可测试磁场矢量的磁敏元件；b. 在被测构件的外围施加一设定大小的人工磁场，该人工磁场的大小足以让进入其中的磁敏元件测出磁敏元件自身所在位置的磁场矢量，该磁场矢量包括矢量的大小和方向；c. 将内置有磁敏元件的传感器贴近被测构件，对被测构件进行常规的无损检测扫描；d. 在传感器进行常规的无损检测扫描过程中，传感器不断地将拾取的常规的无损检测扫描的信号输送给计算机处理系统，由计算机处理系统处理成对应于扫描过程所拾取信号的变化状态的扫描图像，该扫描图像设定为第一扫描图像；e. 在传感器进行常规的无损检测扫描过程中，传感器内的磁敏元件不断同步地将所测出的当前位置的磁场矢量传输给计算机处理系统，由计算机处理系统根据其矢量的大小和方向确定出传感器的当前位置，并处理成对应的当前同步定位数据；f. 计算机处理系统将传感器在扫描过程中所得出的各同步定位数据处理成与传感器常规无损检测的第一扫描图像相同步的第二扫描图像；g. 计算机处理系统进一步地将相同步的第一扫描图像、第二扫描图像处理在一个显示页面中，以便检测人员根据图像的对应关系，可以从第一扫描图像的某一特征点找到第二扫描图像中所对应的传感器位置，或从第二扫描图像的某一传感器位置找到第一扫描图像中所对应的图像变化特征。