[发明专利]微电路测试插槽的接触插入件有效

专利信息
申请号: 200810074246.8 申请日: 2008-02-02
公开(公告)号: CN101373204A 公开(公告)日: 2009-02-25
发明(设计)人: 帕特里克·J·阿莱迪奥 申请(专利权)人: 约翰国际有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/02;G01R1/06;G01R1/04
代理公司: 上海恩田旭诚知识产权代理有限公司 代理人: 洪磊
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种测试具有中心接地(CG)端子的微电路的系统,包括将CG端子与负载板上的接地触点连接的插入件。通过弹性凸部和保持该插入件的孔壁内的槽之间的摩擦作用而将该插入件保持在壳体中。
搜索关键词: 电路 测试 插槽 接触 插入
【主权项】:
1.一种测试具有中心接地(CG)端子的微电路的系统,所述系统包括负载板,所述负载板在第一侧具有接地端子;安装在所述负载板第一侧的壳体,所述壳体具有测试端子,所述测试端子设置在容置所述微电路的所述壳体第一表面区域周围,以及孔,所述孔从所述壳体的第一表面区域向负载板接地端子开口、并与所述壳体第一表面上的微电路CG端子对准,所述孔具有与所述负载板第一侧垂直的Z轴;以及孔内的导电接地接头插入件,所述插入件具有接触所述微电路CG端子的CG端子端、和接触所述负载板接地端子的负载板接触端,其中本发明包括,在所述插入件中的第一凸部、所述第一凸部从所述侧边突出且基本垂直于Z轴,以及在所述壳体中的壁、所述壁界定出至少所述孔的一部分且具有容置所述第一凸部以保持所述插入件处于所述孔内预设的Z轴位置的槽。
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