[发明专利]显微测量装置无效

专利信息
申请号: 200810081083.6 申请日: 2008-02-26
公开(公告)号: CN101256113A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 泷沢雅也 申请(专利权)人: 大塚电子株式会社
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01B9/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 曲瑞
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种显微测量装置,所述显微测量装置具有:被相对镜筒(11)固定、并用于会聚来自物镜(Lo)的平行光线的第1中间透镜(L1);半透半反镜(HM),使通过所述物镜(Lo)和所述第1中间透镜(L1)的光的一部分通过、一部分反射;在被所述半透半反镜(HM)反射的光通过的位置上被设置成可沿该光路(C)移动的第2中间透镜(L2);检测器(16),设置在所述第2中间透镜(L2)的前面并且被设置成可沿光路(C)移动;移动机构(M1、M2),移动所述第2中间透镜(L2)和检测器(16),使得所述检测器(16)的成像位置与来自所述样品(S)的光被第2中间透镜(L2)会聚后的会聚点一致;以及调节所述移动机构(M1、M2)的移动量的控制部(20)。本发明不更换物镜便可以改变倍率和/或检测范围。
搜索关键词: 显微 测量 装置
【主权项】:
1.一种显微测量装置,其特征在于,具有:使来自样品的光成为平行光线的物镜;用于会聚来自所述物镜的平行光线的第1中间透镜;设置在所述第1中间透镜的与所述物镜相反一侧的半透半反镜,该半透半反镜使通过所述物镜和所述第1中间透镜的光的一部分通过,并使一部分反射;固定所述物镜、所述第1中间透镜、和所述半透半反镜的镜筒;在被所述半透半反镜反射的光通过的位置上设置的第2中间透镜,该第2中间透镜可以沿被所述半透半反镜反射的光路移动;设置在所述第2中间透镜的与所述半透半反镜相反一侧的检测器,该检测器可以沿被所述半透半反镜反射的光路移动;移动所述第2中间透镜的第1移动机构;移动所述检测器的第2移动机构;以及控制部,调节所述第1移动机构和/或第2移动机构的移动量,使得所述检测器的成像位置与来自所述样品的光被第2中间透镜会聚后的会聚点一致。
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