[发明专利]信息记录介质、记录装置和方法、再现装置和方法有效
申请号: | 200810081771.2 | 申请日: | 2003-02-27 |
公开(公告)号: | CN101256801A | 公开(公告)日: | 2008-09-03 |
发明(设计)人: | 高桥宜久;伊藤基志;植田宏 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B20/12 | 分类号: | G11B20/12;G11B20/18 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王忠忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及信息记录介质、记录装置和方法、再现装置和方法。这种信息记录介质,包括:用于记录用户数据的数据区,和用于记录缺陷列表的缺陷管理区,该列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区,其中N为满足N≥0的整数。所述缺陷列表包括位于缺陷列表中的固定位置处的标题;分别包括关于N个缺陷区的位置的位置信息的N个缺陷记录;和定位符。标题、N个缺陷记录和定位符按照这样的顺序设置。所述标题包括:用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符;第一更新次数信息;和表示缺陷记录的数量的缺陷记录数。所述定位符包括:用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识;和第二更新次数信息。 | ||
搜索关键词: | 信息 记录 介质 装置 方法 再现 | ||
【主权项】:
1.一种用于产生信息记录介质的方法,该信息记录介质具有用于记录用户数据的数据区;以及用于记录缺陷列表的区,该缺陷列表用于管理存在于数据区中的N个缺陷区,其中N为满足N≥0的整数;所述方法包括下列步骤:在用于记录缺陷列表的区中,形成用于存储位于缺陷列表中的固定位置处的标题的第一区;在用于存储标题的第一区之后,形成用于存储包括关于N个缺陷区的各个位置的位置信息的N个缺陷记录的第二区;在用于存储N个缺陷记录的第二区之后,形成用于存储定位符的第三区,其中所述方法还包括下列步骤:在用于存储标题的第一区中,形成用于存储用于识别缺陷列表的缺陷列表识别符的一个区;形成用于存储表示缺陷列表已经被更新的次数的第一更新次数信息的一个区;形成用于存储表示N个缺陷记录的数量的缺陷记录数的一个区;在用于存储定位符的第三区中,形成用于存储用于识别缺陷列表的定位符的定位符标识的一个区;以及形成用于存储表示缺陷列表已经被更新的次数的第二更新次数信息的一个区,并且其中,当缺陷列表最初被记录在用于记录缺陷列表的区中时,第一更新次数信息和第二更新次数信息的值都被设置为零,其表示该缺陷列表为空。
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