[发明专利]激光测量系统有效
| 申请号： | 200810082480.5 | 申请日： | 2008-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN101261124A | 公开（公告）日： | 2008-09-10 |
| 发明（设计）人： | 山崎贵章;片山康隆 | 申请（专利权）人： | 株式会社拓普康 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张雪梅;刘宗杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种激光测量系统，其包括用于通过在旋转照射中投射激光束来形成激光基准面的激光旋转照射设备，和用于通过接收激光束来执行位置测量的光电探测设备，其中激光旋转照射设备包括激光束发射器、用于调节该激光束发射器的激光束的光量的发光量调节装置、和用于执行与所述光电探测设备的通信的第一通信装置，且其中光电探测设备包括用于探测基准面的光电探测器、用于执行去往和来自激光旋转照射设备的通信的第二通信装置、和用于计算来自光电探测器的光电探测信号是否位于预先确定的范围内的控制单元，其中第一通信装置传送激光旋转照射设备的激光束发射条件给第二通信装置，并且第二通信装置传送光电探测设备的光电探测条件给第一通信装置。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种激光测量系统，包括用于通过在旋转照射中投射激光束来形成激光基准面的激光旋转照射设备，和用于通过接收激光束来执行位置测量的光电探测设备，其中该激光旋转照射设备包括激光束发射器、用于调节该激光束发射器的激光束的光量的发光量调节装置、和用于执行与所述光电探测设备的通信的第一通信装置，且其中所述光电探测设备包括用于探测基准面的光电探测器、用于执行去往和来自所述激光旋转照射设备的通信的第二通信装置、和用于计算来自所述光电探测器的光电探测信号是否位于预先确定的范围内的控制单元，其中所述第一通信装置传送所述激光旋转照射设备的激光束发射条件给所述第二通信装置，并且所述第二通信装置传送所述光电探测设备的光电探测条件给所述第一通信装置。
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