[发明专利]引线端子检测方法和引线端子检测装置无效
| 申请号： | 200810082546.0 | 申请日： | 2008-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN101256068A | 公开（公告）日： | 2008-09-03 |
| 发明（设计）人： | 木村笃司 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/24 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 张鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明一实施方式中，引线端子检测方法从光传感器对电子装置的引线端子照射照射光，并且在所述光传感器检测出来自引线端子的反射光，从而检查引线端子的形状状态。所述光传感器将照射方向上的具有小于等于引线端子的宽度的光线直径的照射光，照射到引线端子的检测对象前端位置，并检测出来自引线端子的反射光。而且在引线端子的排列方向，使所述光传感器和引线端子的任一方对另一方相对移动，对多个引线端子依次进行照射光的照射和反射光的检测，从而对引线端子计数。 | ||
| 搜索关键词： | 引线 端子 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种引线端子检查方法，从光传感器对电子装置的引线端子照射照射光，并且在所述光传感器检测出来自引线端子的反射光，从而检查引线端子的形状状态，其特征在于，将所述光传感器构成为：将照射方向上的具有小于等于引线端子的宽度的光线直径的照射光，照射到引线端子的检测对象前端位置，并检测出来自引线端子的反射光，而且在引线端子的排列方向，使所述光传感器和引线端子的任一方对另一方相对移动，对多个引线端子依次进行照射光的照射和反射光的检测，从而对引线端子计数。
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