[发明专利]集成电路布局的检验方法有效
| 申请号： | 200810084037.1 | 申请日： | 2008-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN101539953A | 公开（公告）日： | 2009-09-23 |
| 发明（设计）人： | 苏士益 | 申请（专利权）人： | 奇景光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁 挥;祁建国 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路布局的检验方法，包括选择一电路设计布局进行检查，根据一判断规则，判断电路设计布局中的一金属导线的宽度骤减比例是否低于一警示值。在一实施例中，电路设计布局至少包括一金属导线，且金属导线包括一具有第一宽度的第一部分和一具有第二宽度的第二部分，以一软件计算金属导线的第一部分和第二部分交接处的一四边形，对应于第一宽度的部分和第二宽度的部分的面积比例，藉由面积比例推算第二宽度和第一宽度的比例，判断第二宽度和第一宽度的比例是否低于一警示值。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 布局 检验 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路布局的检验方法，其特征在于，包括：选择一电路设计布局进行检查；及根据一判断规则，判断该电路设计布局中的一金属导线的宽度骤减比例是否低于一警示值。
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