[发明专利]等离子体处理装置有效
申请号: | 200810086398.X | 申请日: | 2008-03-31 |
公开(公告)号: | CN101276734A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
发明(设计)人: | 高桥秀一;松丸弘树;中尾亘孝;小松贤次 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/3065;H01L21/683 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘春成 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供能够容易调节晶片周缘部温度的等离子体处理装置(1),在处理室(10)将基板(W)载置于载置台(11)上,使供给处理室内的处理气体等离子体化对基板实施等离子体处理,载置台包括温度调节至规定温度的载置台主体(12)和配置在载置台主体上部的用于吸附基板的静电卡盘(13),在静电卡盘上面形成有配置在中央的第一传热用气体扩散区域(47)和配置在周缘部的第二传热用气体扩散区域(48),具有将传热用气体供给第一传热用气体扩散区域的第一传热用气体供给部(51)和将传热用气体供给第二传热用气体扩散区域的第二传热用气体供给部(52),第二传热用气体扩散区域与第一传热用气体扩散区域的容积比为0.1以下。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 处理 装置 | ||
【主权项】:
1.一种等离子体处理装置,在处理室内将基板载置于载置台上,使供给至所述处理室内的处理气体等离子体化,对基板实施等离子体处理,其特征在于:所述载置台包括:被温度调节至规定温度的载置台主体;以及配置在所述载置台主体上部的、用于吸附基板的静电卡盘,在所述静电卡盘的上面形成有配置在中央的第一传热用气体扩散区域以及配置在周缘部的第二传热用气体扩散区域,具有将传热用气体供给至所述第一传热用气体扩散区域的第一传热用气体供给部以及将传热用气体供给至所述第二传热用气体扩散区域的第二传热用气体供给部,所述第二传热用气体扩散区域相对于所述第一传热用气体扩散区域的容积比为0.1以下。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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